Giải pháp tối ưu cho phân tích đặc trưng cấu trúc nano bằng SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/Imaging
Xeuss Pro là hệ thiết bị hàng đầu trong phòng thí nghiệm cho phân tích đặc trưng cấu trúc nano bằng SAXS/WAXS/GISAXS/USAXS/Imaging, kết tinh từ hơn một thập kỷ nghiên cứu chuyên sâu về công nghệ tán xạ tia X góc nhỏ. Xeuss Pro tích hợp các tiến bộ hiện đại, thiết lập những tiêu chuẩn mới cho thiết bị tán xạ tia X.
Các đặc điểm nổi bật của Xeuss Pro
- Chất lượng dữ liệu tối ưu: Đạt kết quả vượt trội nhờ hệ quang học hiện đại, công nghệ Clean Beam cùng khả năng ghi nhận độ phân giải cao và nhiễu thấp.
- Tính linh hoạt mô-đun tối đa: Tùy chỉnh cấu hình bằng các tùy chọn mô-đun để thích ứng với từng phép thử và giải quyết hiệu quả các câu hỏi nghiên cứu.
- Khả năng thí nghiệm không giới hạn: Buồng mẫu lớn cùng nhiều loại bộ gá mẫu và môi trường mẫu mang lại tính linh hoạt vượt trội.
- Bộ phần mềm toàn diện: Tối ưu quy trình nghiên cứu với bộ phần mềm tích hợp cho thu nhận, xử lý và phân tích dữ liệu liền mạch.
