Xu hướng vật liệu nền chống dính và kiểm soát silicone

Ngành vật liệu nền chống dính đang phát triển theo nhiều hướng đồng thời: giảm

Đo lượng phủ silicone trên giấy không cần khí helium bằng LAB-X5000

Silicon là nguyên tố tương đối nhẹ nên tia X huỳnh quang của Si dễ

Kiểm soát chất lượng vật liệu nền chống dính bằng XRF: lượng phủ silicone, Pt và quy trình QC

Trong sản xuất vật liệu nền chống dính, EDXRF có thể hỗ trợ kiểm soát

Phân tích hàm lượng platinum trong silicone bằng máy XRF Hitachi

Platinum (Pt) được sử dụng làm chất xúc tác trong nhiều hệ silicone đóng rắn

FINAT FTM 7: Đo lượng phủ silicone trên giấy và film bằng EDXRF Hitachi

FINAT FTM 7 là phương pháp thử sử dụng quang phổ huỳnh quang tia X

EDXRF là gì? Nguyên lý, ưu điểm và ứng dụng của máy XRF tán sắc năng lượng

EDXRF là kỹ thuật huỳnh quang tia X tán sắc năng lượng dùng để nhận

So sánh ASTM D4294, ISO 8754, ISO 13032 và ISO 20847 trong phân tích lưu huỳnh bằng XRF

ASTM D4294, ISO 8754, ISO 13032 và ISO 20847 đều sử dụng quang phổ huỳnh

Phân tích tổng clo trong dầu mới và dầu đã qua sử dụng theo EPA Method 9075 bằng XRF Hitachi

Tổng hàm lượng clo là chỉ tiêu quan trọng khi đánh giá dầu mới, dầu

Phân tích clo hữu cơ trong dầu thô theo ASTM D4929 bằng XRF Hitachi

Clo hữu cơ trong dầu thô có thể gây ra rủi ro nghiêm trọng cho

Phân tích vanadi và niken trong dầu thô, dầu cặn theo ASTM D8252 bằng XRF Hitachi

Vanadi (V) và niken (Ni) là hai kim loại được quan tâm trong dầu thô