Xu hướng vật liệu nền chống dính và kiểm soát silicone
Ngành vật liệu nền chống dính đang phát triển theo nhiều hướng đồng thời: giảm
23
Th7
Th7
Đo lượng phủ silicone trên giấy không cần khí helium bằng LAB-X5000
Silicon là nguyên tố tương đối nhẹ nên tia X huỳnh quang của Si dễ
23
Th7
Th7
Kiểm soát chất lượng vật liệu nền chống dính bằng XRF: lượng phủ silicone, Pt và quy trình QC
Trong sản xuất vật liệu nền chống dính, EDXRF có thể hỗ trợ kiểm soát
22
Th7
Th7
Phân tích hàm lượng platinum trong silicone bằng máy XRF Hitachi
Platinum (Pt) được sử dụng làm chất xúc tác trong nhiều hệ silicone đóng rắn
22
Th7
Th7
FINAT FTM 7: Đo lượng phủ silicone trên giấy và film bằng EDXRF Hitachi
FINAT FTM 7 là phương pháp thử sử dụng quang phổ huỳnh quang tia X
22
Th7
Th7
EDXRF là gì? Nguyên lý, ưu điểm và ứng dụng của máy XRF tán sắc năng lượng
EDXRF là kỹ thuật huỳnh quang tia X tán sắc năng lượng dùng để nhận
21
Th7
Th7
So sánh ASTM D4294, ISO 8754, ISO 13032 và ISO 20847 trong phân tích lưu huỳnh bằng XRF
ASTM D4294, ISO 8754, ISO 13032 và ISO 20847 đều sử dụng quang phổ huỳnh
16
Th7
Th7
Phân tích tổng clo trong dầu mới và dầu đã qua sử dụng theo EPA Method 9075 bằng XRF Hitachi
Tổng hàm lượng clo là chỉ tiêu quan trọng khi đánh giá dầu mới, dầu
16
Th7
Th7
Phân tích clo hữu cơ trong dầu thô theo ASTM D4929 bằng XRF Hitachi
Clo hữu cơ trong dầu thô có thể gây ra rủi ro nghiêm trọng cho
16
Th7
Th7
Phân tích vanadi và niken trong dầu thô, dầu cặn theo ASTM D8252 bằng XRF Hitachi
Vanadi (V) và niken (Ni) là hai kim loại được quan tâm trong dầu thô
16
Th7
Th7
