Công nghệ & sản phẩm mới, Khoa học và đời sống, Tin tức
Khám phá bức tranh vật liệu toàn diện hơn với công nghệ mới “SAXS + X-ray Imaging”
Tiên phong đổi mới sáng tạo trong việc kết hợp công nghệ tán xạ tia X góc nhỏ (SAXS) với hình ảnh tia X (X-ray Imaging) trên cùng một thiết bị đầu tiên trên thế giới, Xenocs mở ra tiềm năng không giới hạn nghiên cứu & phát triển đến sản xuất vật liệu tiên tiến mới trong nhiều lĩnh vực công nghệ và đời sống!
Mô-đun hình ảnh tia X – InXight trên Xeuss 3.0
Chuyển đổi tự động và nhanh chóng giữa các nguồn tia X cho tán xạ và hình ảnh
Cấu hình InXight đang chờ cấp bằng sáng chế của Xenocs bao gồm nguồn bức xạ tia X tạo ra chùm tia hình nón để chiếu xạ lên mẫu được đặt trong buồng mẫu của Xeuss 3.0 với trường nhìn rộng và chiếu ảnh tia X truyền qua mẫu lên máy dò Q-Xoom:
- Cung cấp khả năng chuyển đổi nhanh chóng và tự động giữa các phép đo tán xạ tia X và hình ảnh tia X.
- Cơ động và nhanh chóng chuyển đổi nguồn tia X đảm bảo quá trình tán xạ tia X và hình ảnh tia X diễn ra tuần tự, tự động trên cùng một mẫu.
SAXS + X-ray Imaging
Mở rộng khả năng truy cập thông tin cấu trúc vật liệu trên thang độ dài từ Ångströms đến milimét.
Truy cập thông tin cấu trúc vật liệu toàn diện hơn từ cấu trúc tinh thể đến cấu trúc vĩ mô.
Khám phá bức tranh vật liệu toàn diện hơn với InXight
Việc phát triển polyme, vật liệu xốp, vật liệu compozit, vật liệu sinh học cho các ứng dụng mới không chỉ đòi hỏi sự hiểu biết về cấu trúc vật liệu của chúng mà còn phải đánh giá tác động của quá trình sản xuất và trong điều kiện sử dụng thực tế. Bằng cách chẩn đoán hình ảnh cấu trúc vĩ mô bằng kỹ thuật hình ảnh tia X (X-ray Imaging), kết hợp với phép đo tán xạ tia X trên Xeuss 3.0 sẽ giúp chúng ta hiểu mối quan hệ giữa sự không đồng nhất của cấu trúc vĩ mô với cấu trúc nano hoặc nguyên tử trên vật liệu đã chế tạo.
Với trường nhìn rộng của kỹ thuật hình ảnh tia X có độ phân giải xuống đến hàng chục micromet là lý tưởng để chúng ta chọn điểm quan tâm cho các phép đo tán xạ cục bộ.
=>Chẩn đoán bằng hình ảnh
Thăm dò với tán xạ
Xác định vị trí quan tâm trong cấu trúc vi mô bằng ảnh tia X truyền qua. Sau đó, chạy các phép đo tán xạ cục bộ để thăm dò các vị trí này ở kích cỡ nano hay nguyên tử.
=> Xem trạng thái động của mẫu “operando dynamic”
trên toàn bộ thang độ dài
Thông qua việc chuyển đổi cấu hình đo nhanh chóng, InXight cho phép các nghiên cứu trạng thái động của mẫu “operando dynamic” trong khi thu thập cả hình ảnh tia X và tán xạ tia X từ mẫu.
 |
 |
Hình 2: Màng polyme dưới sức căng. Ảnh trái: hình ảnh tia X với 3 điểm quan tâm (POI). Ảnh phải: ảnh 2D tán xạ tia X góc nhỏ (SAXS) tại POI.
Sự kết hợp SAXS / WAXS cùng với hình ảnh tia X trong khi nghiên cứu Operando như sự thay đổi của nhiệt độ, độ ẩm hoặc độ căng sẽ giúp chúng ta theo dõi sự phát triển hay đánh giá tác động của môi trường lên mẫu trên toàn bộ thang độ dài từ Ångströms đến milimét.
Như vậy, với mô-đun hình ảnh tia X – InXight trên Xeuss 3.0, chúng ta có thể:
- Truy cập thông tin cấu trúc các mẫu từ Å đến mm
- Chẩn đoán bằng hình ảnh và tìm hiểu bằng tán xạ
- Theo dõi sự phát triển của mẫu bằng tán xạ tia X (SAXS / WAXS) cùng với hình ảnh tia X trong các nghiên cứu Operando
Nguyễn Tiến Dũng tổng hợp.
- Download Brochure Mô-đun InXight tại đây!
- Tìm hiểu thiết bị tán xạ tia X model: Xeuss 3.0 của hãng Xenocs-Pháp tại đây!
- Theo dõi và cập nhật những tin KHCN & Đời sống mới và nổi bật trên thế giới sử dụng kỹ thuật tán xạ tia X góc nhỏ
