PHÂN TÍCH TIO₂ VÀ ZNO TRONG KEM CHỐNG NẮNG VỚI MÁY PHÂN TÍCH XRF ĐỂ BÀN X-SUPREME8000

Trong sản xuất kem chống nắng và mỹ phẩm, việc kiểm soát chính xác hàm lượng Titanium Dioxide (TiO₂) và Zinc Oxide (ZnO) là yếu tố quan trọng để đảm bảo hiệu quả chống tia UV và chất lượng sản phẩm. Với công nghệ XRF, X-Supreme8000 cho phép phân tích nhanh TiO₂ và ZnO, không phá hủy mẫu và hỗ trợ kiểm soát chất lượng hiệu quả trong cả phòng thí nghiệm lẫn môi trường sản xuất.

PHÂN TÍCH NHANH TiO₂ VÀ ZnO TRONG KEM CHỐNG NẮNG VÀ MỸ PHẨM

Kem chống nắng và các sản phẩm mỹ phẩm có khả năng chống nắng thường sử dụng hai cơ chế bảo vệ da khỏi tia UV:

  • Hợp chất hữu cơ hấp thụ tia UV
  • Hợp chất vô cơ tạo lớp màng bảo vệ, giúp phản xạ tia UV ra khỏi bề mặt da.
Titanium dioxide (TiO₂) và Zinc oxide (ZnO)
Titanium dioxide (TiO₂) và Zinc oxide (ZnO)

Trong đó, titanium dioxide (TiO₂) và zinc oxide (ZnO) là hai oxide kim loại được sử dụng phổ biến làm thành phần phản xạ tia UV. Ở các sản phẩm hiện đại, các hạt TiO₂ và ZnO được sản xuất ở kích thước nano, giúp chúng trở nên trong suốt trong sản phẩm. Nhờ đó, nhiều loại mỹ phẩm như kem nền hay phấn trang điểm vẫn có khả năng chống nắng mà không làm thay đổi màu sắc sản phẩm.

Hiệu quả chống nắng của TiO₂ và ZnO phụ thuộc vào hàm lượng, kích thước hạt và dạng tồn tại của chúng trong sản phẩm. Vì vậy, việc kiểm soát chính xác hàm lượng các oxide kim loại trong quá trình sản xuất là yếu tố quan trọng để đảm bảo sản phẩm đạt đúng chỉ số chống nắng và chất lượng đã công bố.

XRF ĐỂ BÀN – GIẢI PHÁP PHÂN TÍCH NHANH TiO₂ VÀ ZnO

Huỳnh quang tia X (XRF) là kỹ thuật lý tưởng để xác định hàm lượng TiO₂ và ZnO trong kem chống nắng và mỹ phẩm vì:

  • Không phá hủy mẫu
  • Thời gian phân tích nhanh
  • Hầu như không cần chuẩn bị mẫu
  • Phù hợp với nhiều dạng mẫu như bột, kem hoặc gel.

Máy phân tích XRF để bàn X-Supreme8000 của Hitachi High-Tech giúp việc kiểm tra chất lượng kem chống nắng và mỹ phẩm trở nên nhanh chóng, đơn giản và hiệu quả. Thiết bị được thiết kế để đáp ứng nhu cầu phân tích thường xuyên trong môi trường sản xuất với sản lượng mẫu lớn và yêu cầu kiểm soát chất lượng nghiêm ngặt.

Máy phân tích XRF để bàn X-Supreme8000
Máy phân tích XRF để bàn X-Supreme8000

CÔNG NGHỆ MẠNH MẼ CHO KẾT QUẢ CHÍNH XÁC

X-Supreme8000 được trang bị:

  • Nguồn phát tia X hiệu năng cao
  • Đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) có độ phân giải cao.

Sự kết hợp này giúp thiết bị cung cấp kết quả chính xác và có độ lặp lại cao chỉ trong vài phút, đồng thời phân tích TiO₂ và ZnO trong cùng một lần đo.

Để nâng cao độ chính xác, thiết bị còn tích hợp bộ quay mẫu (Sample Spinner), giúp xoay mẫu trong quá trình phân tích để thu nhận tín hiệu tại nhiều vị trí trên bề mặt mẫu. Điều này giảm ảnh hưởng của sự không đồng nhất của mẫu và tăng độ tin cậy của kết quả.

VẬN HÀNH ĐƠN GIẢN, DỄ SỬ DỤNG

Quy trình phân tích rất đơn giản:

  • Rót mẫu vào cốc chứa mẫu
  • Đặt cốc vào thiết bị và đóng nắp
  • Nhập tên mẫu
  • Nhấn nút để bắt đầu phân tích.

Kết quả được hiển thị chỉ sau vài giây trên màn hình cảm ứng công nghiệp kích thước lớn.

Phần mềm còn có thể thiết lập chế độ hiển thị Pass/Fail (Đạt/Không đạt), giúp người vận hành nhanh chóng đánh giá kết quả và giảm sai sót khi xử lý số lượng mẫu lớn.

THIẾT KẾ BỀN BỈ CHO MÔI TRƯỜNG SẢN XUẤT

Là một thiết bị phân tích chính xác cao, X-Supreme8000 được trang bị nhiều tính năng bảo vệ nhằm đảm bảo độ bền và an toàn khi vận hành.

Ví dụ:

  • Cửa sổ bảo vệ phụ bên dưới cốc mẫu giúp ngăn chặn rò rỉ mẫu
  • Bộ thay mẫu tích hợp chỉ đưa mẫu vào vị trí phân tích khi bắt đầu phép đo và tự động đưa mẫu ra khỏi vùng tia X sau khi hoàn tất, giúp bảo vệ nguồn phát tia X và đầu dò.

GIẢI PHÁP KIỂM SOÁT CHẤT LƯỢNG HIỆU QUẢ

X-Supreme8000 là giải pháp mạnh mẽ hỗ trợ chương trình kiểm soát chất lượng trong sản xuất kem chống nắng và mỹ phẩm, giúp đảm bảo mọi lô sản phẩm đều đáp ứng các tiêu chuẩn kỹ thuật nghiêm ngặt.

Với thời gian phân tích nhanh, kết quả đáng tin cậy và các tính năng an toàn tích hợp, X-Supreme8000 giúp giảm thời gian dừng máy, nâng cao hiệu suất kiểm nghiệm và tối ưu quy trình kiểm soát chất lượng.

2H INSTRUMENT – ĐỒNG HÀNH CÙNG GIẢI PHÁP PHÂN TÍCH BẰNG XRF

Là đơn vị cung cấp các giải pháp phân tích hiện đại cho phòng thí nghiệm và sản xuất, 2H Instrument mang đến máy phân tích XRF để bàn X-Supreme8000 của Hitachi High-Tech, đáp ứng nhu cầu phân tích TiO₂ và ZnO trong kem chống nắng nhanh chóng, chính xác và không phá hủy mẫu.

Đội ngũ chuyên gia của 2H Instrument luôn sẵn sàng tư vấn giải pháp phù hợp, hỗ trợ lắp đặt, đào tạo vận hành và dịch vụ kỹ thuật sau bán hàng, giúp doanh nghiệp tối ưu quy trình kiểm soát chất lượng và nâng cao hiệu quả sản xuất. Liên hệ 2H Instrument ngay hôm nay để được tư vấn chi tiết về giải pháp X-Supreme8000.

Nguồn: Hitachi X-Supreme8000 for TiO2 and ZnO analysis of sunscreen

Để lại một bình luận

Email của bạn sẽ không được hiển thị công khai. Các trường bắt buộc được đánh dấu *